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根据仪器化压入测试(IIT)的要求,微米压痕仪非常适合于测量硬度和弹性模量等机械性能。无论是块状样品还是薄膜,从软材料到硬材料(金属、陶瓷、聚合物),都可以进行大位移测量(最大1mm)。并且根据需要添加划痕测试模式。仪器化压入测试(IIT)用于持续测量载荷和相关的位移,从而获得材料的硬度和弹性模量。一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕。无论是小位移(几纳米)还是大位移(最大1mm),都可以进行测量。并且大载荷范围(从10mN到30N)可满足样品特性的要求。大载荷范围对于测量粗糙表面尤为有用。高精度的位移和载荷可以进行精确的微米压痕测量。具有两个独立的传感器:一个用于载荷,一个用于位移,来进行准确的计量测量。框架刚度高达2x10^8N/m,具有更高的位移准确度。对于材料性能的位移曲线,可获得连续多周期(CMC)的位移曲线。并且支持压入载荷和位移控制模式。通过可视点阵模式可以进行对样品进行多点定位测试。同时拥有多个测试模式,根据需要可使用用户自定义程序设置测试参数。典型应用包括冶金、聚合物的表征、仪器化压痕热喷涂涂层的表征、涂层表面的物理特性分析以及胶凝的机械性能。技术规格如下:- 最大载荷:30N,分辨率:6μN,本底噪音<100[rms][μN]*- 最大位移:1000μm,分辨率:0.03nm,本底噪音<1.5[rms][nm]*- 载荷框架刚度>10^7N/m符合国际标准ISO14577,ASTME2546,ISO6507,ASTME384*。以上数值为理想实验室条件下规定的本底噪音值,并使用减震台。
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