您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
贝克曼库尔特zei新发布新一代的DelsaMaxTM系列-速度与卓著功能俱备的粒径与Zeta电位分析仪。从DelsaMax Pro模型的粒径分析与Zeta电位分析独家技术到ASSIST辅助处理系统(选配项),DelsaMax系列分析仪令你的分析探索达到前所未有的深度、广度和速度。DelsaMax Pro多角度Zeta电位及纳米粒径分析仪 – 低至45 µL的样品,快至1秒钟的分析,DelsaMax PRO同时精确完成粒度及Zeta电位的分析
惟一通过“并行测量”技术同步获得粒径与Zeta电位数据的分析仪。
惟一以“多角度测量”分析Zeta电位的技术(MP-PALS)。
独有的“DelsaMax ASSIST”(选配项)辅助处理系统,自动加注样品、自动排除样品气泡,确保无干扰。
粒度分析领域的先锋-贝克曼库尔特公司骄傲地发布新一代的DelsaMax系列分析仪。无论是分析速度、精确度以至分析原理,DelsaMax系列均大幅领先于其它对手。
少至45µL的样品、快至一秒钟的分析,DelsaMax PRO同时精确完成粒度及Zeta电位的分析。
通过给样品提升压力以压止干扰测量的气泡,大大优化DelsaMax PRO Zeta电位分析的精确度。
具备直观的界面,可进行完全可定制的分析模式,并且能够创建叠加、自定用户参数与报告等。
测量原理:动态光散射、电泳光散射,MP-PALS多角度相位分析。
测量功能:Zeta电位、纳米粒径及分子量。
仪器亮点:1)多角度Zeta电位分析(MP-PALS 多角度相位分析)。2)并行分析技术; 3)“飞快”分析技术:
高达32个探测器,其中31个探测器同时收集相位迁移信号,分析Zeta 电位。
采用“并行测量”技术,同时具备两套探测系统,一次加样即可同时分析Zeta电位与纳米粒径,同步获得数据。
领先的“飞快”分析技术,Zeta电位分析时每秒种可采集至少12400个数据点,可于zei快1秒钟内完成整个分析过程。
样品zei小分析量:粒径45微升,Zeta电位170微升。
前置式自动进样接口,可直接连接液相色谱仪(HPLC)或自动加样及除泡辅助系统。
后置式网络通信接口及USB接口,可直接连接其他仪器(如HPLC)或网络系统进行控制及数据传输。
独有的内置高分辨率触摸屏监视器,实时显示仪器数据采集状态。
粒径分析:
激光器 :固体激光器,功率50 m W, 波长532纳米。
探测器数目 :32个。
粒度测量范围 :0.4nm ~10,000nm(水动力)(粒径上限范围会受颗粒沉降影响)。
摩尔质量范围 :5x107 g/mol (Da)(取决于分子形状模型)。
环境温度范围:4℃至70℃
zei少样品量:45 μL。
zei短测量时间:1秒。
Zeta电位测量:
zei少样品量:170μL。
离子强度范围 :0 至 50 mS/cm(生理盐水电导率的 4 倍)。
电泳率测量范围 :无实际限制。
电泳率测量的粒径范围:直径2 nm 至 15 µm。
电泳率灵敏度 :1 mg/mL 溶菌酶。
贝克曼库尔特DelsaMax PRO 多角度Zeta电位及纳米粒径同步分析仪,DelsaMax PRO
贝克曼库尔特DelsaMax PRO 多角度Zeta电位及纳米粒径同步分析仪信息由贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司为您提供,如您想了解更多关于贝克曼库尔特DelsaMax PRO 多角度Zeta电位及纳米粒径同步分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
贝克曼库尔特Multisizer 4e颗粒/细胞计数及粒度分析仪
应用动态光散射测量纳米粒度时,多角度测量比单一角度更有优势。N5为您的亚微米颗粒粒度分析提供最简化的要素。拥有强大的功能与用户友好界面的全新软件配合仪器精美的外形设计,使其成为艺术化的工具。仪器的检测系统包含着从11度至
贝克曼库尔特展开粒度仪产品系列“2013忠诚客户优惠”活动 贝克曼库尔特公司在中国的粒度仪产品销售业务在过去三十年中获得巨大发展,在中国的各行各业拥有一大批忠诚的客户。为表达对广大客户的感谢,贝克曼库尔特公司近期在中国展开粒度仪产品系列的“2013忠诚客户优惠”活动,凡是正在使用LS系列激光粒度仪、Multisizer系列颗粒计数仪、N系列纳米粒度仪、Delsa440系列Zeta电位仪,
2013全球科学仪器盛会PITTCON贝克曼库尔特发布全球顶尖纳米粒度及Zeta电位仪 2013年3月18日贝克曼库尔特发布最新一款高效能纳米粒度及ZETA电位分析仪。每年一度的全球最大型科学仪器展---美国费城PITTCON上,贝克曼库尔特公司发布一款多通道高效能的 纳米粒度及Zeta电位仪---DelsaMax系列。
由美国贝克曼库尔特公司主办的巡回技术讲座天津、北京站的讲座取得圆满结束。 两地的技术讲座吸引了大批的在校老师和学生前来聆听。到会者积极进行交流,达到预期效果。  
9月4日在广州建国酒店举行的“颗粒特性表征技术新进展”讲座圆满结束,来自广东各地及华西南区的工矿企业、高校及研究单位的近百名客户参加了本次讲座。 本次讲座由贝克曼库尔特公司美国总部资深技术专家、颗粒分析仪器届知名人士许人良博士主讲。在近4个半小时的时间里,许博士作精彩的演讲。讲座中他分别介绍了纳米粒度测量的最新国际标准与
全国磨料磨具、刚玉金刚石行业最具影响力的行业聚会------2009年春季全国磨料磨具行业信息交流暨第49届中国刚玉碳化硅交易会于今天在深圳美丽的大梅沙湾畔的芭提雅酒店隆重举行。来自全国各地的专家、客商、厂家等到会者高达五百六十多人参加了会议。  
贝克曼库尔特颗粒特性分析仪器部门乘着发布新仪器DelsaNano纳米粒度分析及ZETA电位分析仪的东风,于2007年下半年开始陆续在各城市的大专院校及研究单位、企业等单位展开巡回演讲活动。向广大的师生、各行业的客户展示贝克曼库尔特在颗粒特性分析领域最新的技术成果,以及最完善和齐备的颗粒表征的方案。 近期于上海高校、浙江高校举行的讲座受到极大
安徽农业大学查看采购价格
河南工程学院材料学院查看采购价格
陕西理工学院生工学院查看采购价格
【租赁】贝克曼库尔特 细胞分析 BECKMAN COULTER CytoFLEX S Flow Cytometer 4激光13色 月租金低至¥20000
贝克曼库尔特Biomek FX实验室全自动工作站
群组论坛--颗粒计数器
您可能要找:贝克曼库尔特Zeta电位贝克曼库尔特DelsaMax PRO 多角度Zeta电位及纳米粒径同步分析仪价格DelsaMax PROZeta电位参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号