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近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛,因此,测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中,常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高,并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。 本产品为手
仪器介绍:
近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛,因此,测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中,常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高,并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。
本产品为手动方式调节仪器,测量薄膜的厚度和光学参数。清晰的展示了椭圆偏振测厚仪的各个部件的结构功能,调节方法,使用户可详细的了解椭圆仪的原理结构,并培养其动手操作能力。
技术指标:
编号
名称
参数
1
测量范围
1nm-300nm
2
测量zei小值
≤1nm
3
入射角
30°~90°误差≤0.1°
4
偏振器方位角读数范围
0°~180°
5
度盘刻度
每格2度
6
游标zei小读数
0.05°
7
光学中心高度
152mm
8
工作台直径
φ70mm
9
外形尺寸
730mm×230mm×290mm
10
主机重量
20kg
SGC-1A椭圆偏振测厚仪价格
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