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椭圆偏振法测量的原理很早就已提出,相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段,并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法zei基本、zei重要的应用之一
仪器介绍: 椭圆偏振法测量的原理很早就已提出,相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段,并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法zei基本、zei重要的应用之一 。仪器特点: ●仪器采用消光式椭圆偏振方式测量 ●精度高、自动控制 ●光源采用氦氖激光,波长精度高 ●仪器采用USB接口与电脑连接 ●配套软件对采样数据具有多种处理方式,适用于不同需要 ●软件有完整版及学生版两种版本,适于教学要求
技术指标:
编号
名称
参数
1
测量范围
1nm~4000nm
2
测量zei小值
≤1nm
3
镀膜折射率范围
1.300~10.000
4
入射角
40°~90° 误差≤0.05°
5
偏振器方位角读数范围
0°~180°
6
偏振器步进角
0.0375°/步
7
测量精度
±0.5nm(10nm,±0.5nm)
8
光学中心高度
75mm
9
工作台直径
φ10mm~φ120mm
10
厚度
≤10mm
SGC-2自动椭圆偏振测厚仪
仪器简介:
本仪器为我公司的专利产品,主要分为光源、接收器、主机、电子及通讯四部分。
1、光源:采用波长为632.8nm的氦氖激光光源①其特点是:光强大、光谱纯、波长稳定性好。
2、接收器:采用光电倍增管⑤,把光讯号变为电讯号,经放大后输出至微机,由微机选择出消光位置的角度值。
3、主机部分:除以上两项外,还有起偏组件②,样品台③,检偏组件④。
4、电子及通讯部分⑥:采集光强及对应的角度值并传输到计算机,再接收由计算机发出的指令逐步靠近消光点。
主要特点:
1、仪器采用消光式椭圆偏振方式测量,具有精度高、自动控制等特点。
2、光源采用氦氖激光,波长精度高。
3、仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件对采样数据具有多种处理方式适用于不同需要,同时软件有完整版及学生版两种版本适用于教学要求。
技术参数:
测量范围:1nm~4000nm;
测量zei小值:≤1nm;
镀膜折射率范围:1~ 10
入射角:20°~90° 误差≤0.05°;
偏振器方位角范围:0°~180°;
偏振器步进角:0.014°/步;
仪器测量精度:在10nm处误差为±0.5nm;
光学中心高度:80㎜;
允许样品尺寸直径:Φ10~Φ120㎜,厚度≤16㎜;
外形尺寸:730 x230X 290;
主机重量:30kg
SGC-2自动椭圆偏振测厚仪价格
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