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产品详情:
1、产品特点:
DECTRIS PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。 与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子计数,这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。 实验室中的X射线源,尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多,因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号,由于没有暗电流和读出噪音,PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性,例如复位噪声和非线性电荷响应。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了较快的计数能力,结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围,完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。 具有挑战性的实验室应用(如电荷密度研究和配对分布函数分析)依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据,DECTRIS PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的组合,并且是实验室中这些要求的更高匹配。2、核心优势 - Mo,Ag和In量子效率> 90% - 直接检测清晰的空间分辨率 - 没有读出噪音,也没有黑暗信号达到较高精度 - 高动态范围 - 荧光背景抑制 - 计数率 - 同步辐射级别的辐射硬度 - 免维护运行 - 高可靠性:没有容易发生故障的密封,无需冷却至室温以下
3、应用领域 - 电荷密度分析 - 对分布函数(PDF)分析 - 高分辨率化学结晶学 - 高压/高温XRD - 关键尺寸SAXS - 计算机断层扫描(CT) - 无损检测(NDT)
技术参数:
PILATUS3 R CdTe
1M
300K
300K-W
100K
探测器模块数量
2 × 5
1 × 3
3 × 1
1 × 1
有效面积:宽×高 [mm²]
168.7 x 179.4
83.8 × 106.5
253.7 x 33.5
83.8 x 33.5
像素大小 [μm²]
172 x 172
总像素数量
981 x 1043
487 × 619
1475 × 195
487 x 195
间隙宽度, 水平/垂直(像素)
*每个模块之间水平间隙增加1个像素
7* / 17
- */ 17
7* / -
-* / -
非灵敏区 [ % ]
7.8
5.7
1.1
0.2
缺陷像素
< 0.1%
最大帧频 [Hz]
5
20
读出时间 [ms]
X射线探测器
Dectris 高能X-Ray相机
群组论坛--X射线多晶体衍射(XRD)
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