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产品简介:
采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650 nm,无需波长校准,比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口,用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性,尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比,PDL-201具有较快的测量速度,较大的测量动态范围,更明亮的显示屏,以及用于集成的附加模拟输出端口。
主要技术参数:
波长:
1260-1620 nm
分辨率
0.01 dB
PDL 精确度1,2,3
±(0.01 + 5% of PDL) (dB)
PDL 重复性1
±(0.005 + 2% of PDL) (dB)
PDL 动态范围4
0 to 45 dB
IL 精确度1,2,3
±(0.01 + 5% of IL) (dB)
IL 重复性1
±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)
IL 动态范围4
输入光功率
-40 to 6 dBm
光功率精度
±0.25 dB
波长校准( 功率测量)
1260-1360 nm ; 1440-1620 nm
测量速度
30 ms/次 (input >-30 dBm)
操作温度
0 to 50℃
存储温度
-20 to 70℃
光连接器类型
光源、 DUT 输入:APC
DUT输出
自由空间适配器
模拟输出
0-4V PDL监控电压 (用户自定义PDL范围)
(0-3.5V PDL线性变化, 4V 指示低功率)
电源供应
100–240VAC, 50–60Hz
通讯接口
USB, Ethernet, RS-232, and GPIB
尺寸
2U, 19” 半架宽度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L)
备注:数据在23±5°C温度下,10组平均值所得。精确的偏振相关损耗测试还取决于测试设置。输入功率 ≥0 dBm,用户自定义功率计测量模式。
偏振相关损耗测试仪PDL-201,
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