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北京波威科技有限公司代理的美国CVI厂家的IF干涉平板,也称IF - Interferometer Flats。它是一个未镀膜的光窗基底,两面都被抛光,弧度为30±5分楔形边缘。因此,它们经常作为其他镀膜产品的基础,例如W1W2系列分束镜,输出耦合器,谐波分离器,分色镜等等。 产品技术参数描述:
Specifications
Clear Aperture
≥85% of central diameter
Diameter
φ+0/-0.25 mm
Optical Material
UV-grade fused silica, or N-BK7 glass
Surface Quality
10-5 scratch and dig
Thickness
t±0.25 mm
Transmitted Wavefront Error
λ/10 @ 633 nm
Wedge
30 ±5 minutes
选型表:
Part Number
φ (in.)
φ (mm)
t (in.)
t (mm)
IF-0512-UV
12.7
Fused Silica
3.2
IF-0512-C
BK7
3.175
IF-0525-UV
0.500
0.250
6.4
IF-0725-UV
0.750
19.1
IF-1012-UV
1.000
25.4
0.125
IF-1025-UV
标准 GB/T 13962-1992 光学仪器术语JB/T 9342-1999 光学计量仪器用测帽JY/T 0350-1996 激光光学演示仪GB/T 33523.604-2022 产品几何技术规范(GPS)表面结构 区域法 第604部分:非接触(相干扫描干涉)式仪器的标称特性GB/T 26328-2010 生物化学分析仪器用干涉滤光片ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证JJG 739-2005 激光干涉仪JB/T 5610-2006 激光干涉仪JB/T 5667-1991 光学和光学仪器大地测量仪器术语GB/T 33523.603-2022 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性JB/T 8232-1999 自准直仪KS B ISO TR 14999-2:2011 光学和光学仪器.光学机和光学元件干涉测量.第2部分:测量和评估技术GB/T 26596-2011 光学和光学仪器.大地测量仪器.术语JB/T 13872-2020 平面相移干涉仪JJG 661-2004 平面等倾干涉仪GJB/J 6221-2008 数字式激光平面干涉仪校准规范GJB 8704-2015 数字式激光平面干涉仪校准规范GB/T 13962-2009 光学仪器术语KS B ISO TR 14999-1:2011 光学和光学仪器.光学机和光学元件干涉测量.第1部分:术语、定义及基本关系JJG 371-2005 量块光波干涉仪 猜你喜欢 论坛 群组论坛--光谱分析 进入本群论坛 成功提交信息,可获得积分。详见积分规则 数字透射光显微镜 Mateo TL 显微镜电动载物台 昊量光电高功率光纤耦合LED光源 昊量光电双向散射分布函数测量仪 昊量光电光纤准直器/耦合器 您可能要找:CVILaserOptics光学仪器组件IF干涉平板价格IF光学仪器组件参数 分析测试百科网| 快捷面板| 站点地图| 律师声明| 关于我们| About Us| 广告服务| 改善您的体验| 友情链接| 联系我们 移动版: 资讯 直播 仪器谱 Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved 京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
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