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产品特点:
实时晶体定向分析
角度精度可达0.2度(高端需求可达0.02度)
完整解决方案,包括X射线发生器、相机、测角仪和定向软件
定制方案,可在现有的系统基础上升级
现场安装与培训
一致性/重复性:已被全世界60多个主要晶体研究实验室验证
数字化X射线劳厄解决方案
系统采用独特的背向散射角度采集和最终对准精度可以低至0.2度(高端需求可达0.02度),与高灵敏度偏振片相比,曝光时间可减少2个数量级以上,实现实时劳厄图案记录。
结合电动样本旋转平台,系统的晶体定位程序变得更简单、更灵活。
采集软件从电脑提供准备好索引的数字图像到Linux程控设备,系统利用Orient Express软件分析图像,获得晶向或用已知结构对现有晶体进行标引。
集成光束准直到数字劳厄探测器,比薄膜图案采集快10倍以上
数字劳厄探测器允许比薄膜更快的收集
相机系统可安装铜、钼或者钨靶X光源(长细聚焦、细聚焦或者点聚焦)。X光源在相机内准直后直接照射到样品上,可与高灵敏度偏振片的净磁通增益相当。根据晶体材料和使用光源,可以在1至30秒曝光后记录劳厄图案。
数字化X射线劳厄探测器可以在一小时内安装,替代传统的偏振劳厄感光片
数字劳厄相机配备了综合校准套件,技术人员/工程师可以对传统的胶片暗盒探测器进行升级换代。
准直器的选择,可以让你根据测量晶体种类选择正确的通量/分辨率。
标准数字化劳厄相机比高灵敏度偏振片减少了两倍的数据采集时间。
劳厄系统 晶体定向与特性分析,LAUESYS
劳厄系统 晶体定向与特性分析信息由北京波威科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于劳厄系统 晶体定向与特性分析报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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