激光共聚焦徕卡新一代共聚焦成像系统 工业显微镜应用-高清晰度共聚焦显微镜在薄膜表征上的应用(徕卡)

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由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗糙度，以及这种表征技 术如何提供优于传统表征方法（如压痕或划痕测试）的结果。

1.观察更多的洞察力 

• 创新的Power HyD 检测器，与传统的光电倍增管 (PMT) 相比，光子检测效率 (PDE) 提高到2倍以上，在近红外一区内更是提高3倍，最高波长达到850nm，同时提供了光子计数功能。

• 二代白激光可与各种荧光染料完美契合，让您可以全光谱自由地选择激发谱线。在440-790nm波段内，最多可同时选择8条单激发谱线。

• Power HyD 检测器与二代白激光巧妙结合，可实现激发波长与检测波长的精准匹配，以更低的照明强度完成有效信号采集，保持活细胞样品的原始性状。

 
2.探索更多的高潜力 

• TauSense 技术重新定义共聚焦，获得额外的维度以及崭新的、未曾探索过的深入视角，为研究带来巨大的潜在价值。

• 运用 TauContrast 可立即从活细胞成像中获得功能信息，例如代谢状态、酸碱度和离子浓度。

• 运用 TauGating 技术在保留目标信号的同时去除多余的自发荧光，从而充分提高检测效率。

• 即使发射光谱波段完全重叠，TauSeparation 技术也可以将样品组分分离，从而扩大同时检测通道的数量。

 
3.完成更多的生产力

• ImageCompass 是一个全新的智能用户界面，“拖-放”添加荧光探针，自动优化激发和检测，自动配置成像参数。

• LIGHTNING，共振扫描头与全新动态信号增强技术相结合，全速实时打造优越的图像质量。

• 使用 LAS X Navigator 全局编列定位样本图像，锁定重要区域并快速鉴别重大细节。

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