安东帕Litesizer DLS系列动态光散射粒度和Zeta电位分析仪
安东帕Litesizer DLS系列动态光散射仪集成粒度与Zeta电位分析,采用多角度检测(MAPS)和自动角度选择技术,确保粒径测量高精度(±0.5%折射率测量)。独家cmPALS技术和Omega样品池设计提升Zeta电位重复性(±3%),支持1.3 nm-100 µm超宽范围。
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