【课程推荐】KLA Instruments | Webinar课程：反射和透射：两个优于一个

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KLA Instruments | Webinar课程：反射和透射：两个优于一个。

※适合新老客户了解学习膜厚仪的使用；加深对产品的理解。

FILMETRICS

同时测量光谱反射和透射对分析光学薄膜来讲是非常重要的。欢迎来到F10-RT独特的境界里。显然这会限制我们只能用透明基底材料， 但这会让我们更准确地测量光学系数 （特别是消光系数）。除五彩缤纷的介电薄膜外我们还会讨论上百纳米厚的金属薄膜。

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Michelle Shi

应用工程师 @KLA Instruments

Michelle Shi 是KLA Instrument Group Filmetrics 光学轮廓仪以及薄膜测量仪的应用工程师。Michelle 于2019年5月加入KLA公司, 担任Filmetrics薄膜测量以及光学轮廓产品的应用，客户支持以及业务开发，主要支持Profilm3D光学轮廓仪以及Filmetrics全系列薄膜测量产品。在加入KLA之前，Michelle在美国俄亥俄大学获得物理学硕士学位并在NASA Ames硅谷研究中心进行科学研究，以及在高新科技初创企业kaiaTech担任高级工艺工程师负责半导体薄膜材料的研发及新应用。