滨松亮相中国质谱学术大会，尽展质谱用新一代器件技术

由中国质谱学会（中国物理学会质谱分会）、中国化学会质谱分析专业委员会和中国仪器仪表学会分析仪器分会质谱仪器专业委员会联合主办的“2018年中国质谱学术大会”（CMSC 2018），于2018年11月23-26日在广州市举办。本次大会以“中国质谱新时代”为主题，覆盖内容包括质谱基础与理论、质谱仪器研发、质谱新方法新技术、生命科学与医学、材料与能源、环境与食品、地球科学与资源、公共安全等。滨松于本次大会亮相，带去了2018年多款质谱电离、探测用新品。并于“质谱仪器研发”分论坛发表了《新一代器件提高质谱探测的性能》的技术报告。

滨松分析领域质谱项目推进负责人周旭升发表报告

报告介绍了目前滨松应用在质谱中的离子化及离子探测相关产品，并着重展示了最新的技术走向及推出的产品。离子化方面，报告分享适用于光电离法（PI法）的真空紫外氘灯与传统PID灯的一系列实验数据对比，展示其高电离能（10.78eV）在VOC分析、尾气分析等混合物分类用途中可发挥的优势。另外，针对可免用Matrix、并大幅简化和缩短质谱成像前处理的新型离子化辅助基板DIUTHAME，通过了多个测试的对比，展示了其在低分子领域的噪声少、高分辨率成像、重复性良好等特点。 离子探测方面，报告展现了滨松电子倍增器（EM）在动态范围上的不断改善，以及微通道板（MCP）的高灵敏度化、耐性的提升、时间特性的改善等一系列技术推进。着重介绍了在2018年推出的3款最新产品：栅网阳极结构第三代MCP（GEN3 MCP）：其Triode构造实现对离子反馈效应的抑制，在低真空中（气压达1Pa）仍可保持高增益工作，适用于小型MS；MCP+AD（MCP复合雪崩二极管结构）：拥有普通MCP难以比拟的106高增益，并具宽动态范围的特性；无铅的通道式电子倍增器（CEM）：陶瓷构造，符合RoHS要求。

会议中滨松展出的质谱仪用关键探测器件

滨松亦在大会“质谱仪器研发”版块发布了《Development of the Triode-type MCP-based Compact Ion Detector for High Pressure Operation in Miniature Mass Spectrometer》以及《Study for New Imaging Mass Spectroscopy by Using New Ionization Method (DIUTHAME)》两篇墙报内容，分别展现了GEN3 MCP及离子化辅助基板DIUTHAME的相关技术研究和实验成果。

滨松展位