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Park NX系列 C-AFM Users Manual 操作手册


在C-AFM测量中,导电尖端以接触模式AFM扫描表面,以映射出同一表面的形貌。同时,通过测量针尖与样品之间的电流,来反映样品表面的电导率等电特性。一般情况下,针尖与样品之间的电流非常小,需要用电流放大器放大后才能加工成图像。NX系列SPMs支持10^6~10^12 V/A可变增益的内部电流放大器,满足各种测量条件的需要。



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