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PP3010 Cryo-FIB/SEM 冷冻传输制备系统试样架......

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Cryo-SEM-and-Cryo-FIB-SEM冷冻扫描电镜和冷冻FIB-SEM双束系统样品制备系统手册......

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采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱(EELS)提供了前所未有的速度,灵敏度和动态范围,是用于EELS的理想电子计......

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采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱(EELS)提供了前所未有的速度,灵敏度和动态范围,是用于EELS的理想电子计......

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DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 ......

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DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 ......

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新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能,不断突破电子探测的极限。同时,这款直接电子探测器能够在很......

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新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能,不断突破电子探测的极限。同时,这款直接电子探测器能够在很......

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采用DownStream设计,等离子体中不含任何电荷及离子态物质,防止对样品表面的溅射损伤......

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常规试样制备包括生产用于透射电子显微镜的高质量横截面标本所需的所有组件。广泛使用的横截面试样包括半导体器件(通常具有多层,因此具有多个界面)......

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