WEPER XRF2510能量色散X射线荧光光谱仪、WEPER HF3000 高频熔样机在滑石成分分析中的应用

通过使用滑石标样建立曲线，考察曲线相关度并在相同制样条件下检测未知样的成分。样品前处理采用熔片法，用WEPER HF3000 高频熔样机将样品与混合熔剂熔铸成试料熔片，再使用WEPER XRF2510能量色散X射线荧光光谱仪完成对滑石样品的成分分析。本方法测试周期短，实验流程简单，样品用料少，结果准确、可靠。