北京艾飞拓科技有限公司
400-6699-117转1000

分析测试百科网 认证会员,请放心拨打!

分析测试百科网 > 艾飞拓 > 二次离子质谱
白银会员

诚信认证:

工商注册信息已核实!
扫一扫即可访问手机展台
关注IONTOF-CHINA,获取更多信息
二次离子质谱
IONTOF
Hybrid SIMSSIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取化学成分信息。从事生命科学应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来,在亚细胞水平上成像和......
IONTOF
TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析,并行探测所有元素和化合物,......
IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新
TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命......
IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质......
IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新
Nanoprobe 50 是新一代 M6 的铋离子团簇离子源(LMIG)。       该源可提供高......
IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新
全新 M6 具有以下突出优势:1      新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (&l......
IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新
全新 M6— — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技       M6 是 IONTO......
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号