产品说明、技术参数及配置

仪器采用先进的技术制造，测角仪测角准确度与精确度均达到当前世界先进水平。光源与探测器能长时间稳定工作，保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析，包括：物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析；薄膜材料分析，小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器（或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器）、数据处理软件、相关应用软件等。

仪器特点
高稳定性X射线源：仪器采用DF3型固态X射线发生器，很大提高衍射仪测量结果的稳定性
长寿命X射线管：金属陶瓷X射线管，具有散热好、运行功率高（40kV×40mA）、使用寿命长特点
高精密测角仪：衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术，具有定位准确、测量精度高测角仪内藏式设计，使仪器表现更整洁、美观、大方，在衍射角度测量范围内，衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全：高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用”,软件自动识别控制技术，方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠：X射线散射线防护装置更安全可靠，样品测量时射线防护门自动禁止打开，双重防护，任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射

应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析（Rievtveld分析）
非常规条件下晶体变化（高低温）
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析
                   

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途