四探针金属/半导体电阻率测量仪

 SB100A/2为原SB100/1及SB100A/1的改进型。
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V  50Hz，为实验室环境使用）
SB100A/2由SB118直流电压电流源、PZ158A直流数字电压表、SB120/2四探针样品测试平台三部分组成。
l SB118直流电压电流源：是一台4½位的电压源及电流源，既可输出5µV—50V，5档可调电压，基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA—100mA，5档可调电流，基本误差为±（0.03%RD+0.02%FS）详见本公司产品SB118。
l  PZ158A直流数字电压表：具有6½位字长，0.1μV电压分辨力的带单片危机处理技术的高精度电子测量仪器，可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品PZ158A。
l  SB120/2四探针样品测试平台：该测试平台是SB120/1测试平台的改进型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原SB120/1的基础上作了很大的改进，故在高校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途