磁性薄膜磁电阻测量仪

用四探针测量电阻率，可以避免电极接触电阻对测量结果的影响，因此在国内外早已被广泛用来测量金属、半导体、导电高分子材料的电阻率。另外本仪器还在四探针样品台两侧加上亥姆霍兹线圈，用其提供一个可调磁场，用来测量磁性金属薄膜的磁电阻率。
用途：
（1） 金属、半导体、导电高分子薄膜（块体）电阻率的测量；
（2） 金属薄膜材料电阻率的测量（zei大厚度0.2毫米）；金属材料电阻率的测量（zei大厚度6毫米）
（3） 磁性合金薄膜的磁电阻测量；
（4） 铁磁/非磁性/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量；
（5） 自旋阀型巨磁电阻薄膜、隧道结型巨磁薄膜的磁电阻测量。

仪器组成：
1、 亥姆霍兹线圈
由亥姆霍兹线圈提供磁场，线圈可在360度范围内绕样品旋转；
四探针组件是由具有引线的四根探针组成。
2、 SB118精密直流电流源
输出电流在10-6~0.2安培范围内可调
3、 直流数字电压表
具有6位半字长、0.1微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。
4、 直流磁场电源
输出电流在0~10安培

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途