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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | MProbe Vis |
品牌: | Semiprobe | 产地: | 美国 |
关注度: | 13 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 区域代理 |
价格范围 | 50万-100万 |
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Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪
让你成为测量专家 !
大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene,PMMA,聚酰胺),薄金属薄膜等。
MProbe系统
精度 | 0.01nm或0.01% |
精确度 | 0.2% 或1nm |
稳定性 | 0.02nm或0.03% |
光斑尺寸 | 标准为3mm, 低至3μm |
样本大小 | 从1 mm |
厚度范围: 15 nm-50 um
波长范围: 400nm -1100 nm
LCD, FPD应用: ITO, 细胞间隙,聚酰胺。光学涂层: 介质滤波器,硬涂层,防反射涂层半导体和电解质: 氧化物,氮化物, OLED堆
实时测量和分析。各种多层次的, 薄的,厚的,独立和不均匀层。
丰富的材料库 (500多种材料) – 新材料容易增添。Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等
使用灵活: 可联网在操作台桌面或现场进行研究与开发。
用TCP或Modbus接口能容易的和外部系统连接。
测量参数:厚度、光学常数、表面粗糙度。
界面友好强大: 测量和分析设置简单。
实用的工具:仿真和灵敏度分析,背景和缩放修正,连接层和材料,多样品测量,动态测量和生产批量处理。
从硅晶片原反射比。信号最大(16位)。
积分时间:10ms
光谱范围 (nm) | 400-1100 |
分光仪/检测器 | 分光仪F4,Si CCD 3600像素,16位ADC, |
光谱分辨率 | <2 nm (标准) |
光源 | 卤钨灯(Xe填充)5W, CT 2800o |
反射比探测 | 光导纤维(7纤维束), |
精度 | <0.01 nm或0.01% |
准确度 | <1nm或0.2% |
重量 | 4 kg |
尺寸 | 8”x 10” x 4” (WxDxH) |
功率 | 100-250VAC, 50/60 Hz |
测量500nm AlN. 测量参数:厚度和表面粗糙度。 换算系数应用到正确的距离以改变配置。
选配硬件 | |
-FLVis | Vis消色差聚焦透镜. WD:35mm. 光板尺寸: <0.5mm. |
-LP500 | 长通滤片, 波长范围在500nm以下. |
-FDHolder | 样品架朝下.测量透明和柔韧的样本 |
-TO | 选配透射率 |
-TO Switch | 2通道开关,结合测量反射率和透光率. |
- 2oW | 更改为20W (CT 3100o, 使用时间2000hrs) 钨卤素灯. |
-HR | 升级光谱仪分辨率<1nm |
- TR | 在输入/输出触发5V TTL。1外部(输入) |
软件选项 | |
-MOD | 基于Modbus标准远程控制(TCP) |
- CM | 不同测量与指定数量的测量和/或延迟 |
Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪信息由广州市固润光电科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途