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广州市固润光电科技有限公司
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| 参考报价： | $100000 USD（美元） | 型号： | SS410-XE |
| 品牌： | Microvision | 产地： | 美国 |
| 关注度： | 26 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 价格范围 | $10万-30万 |
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美国Microvision System成立于1993年，是全球显示器测试系统的主要供应商，可以检测FPD CRT,PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD投影机等，应用于R&D, QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务，赢得用户的尊敬。
系统功能说明：
Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420，使用一组抵用平台和控制电脑，经由专业控制软件，进行显示器光学特性的自动测量和分析。
Microvision+SS410-XE+显示屏测量系统
SS410-XE显示屏测量系统
应用领域：
显示屏技术
自动测量平台
- TCO显示器6.0和TCO笔记本
- ISO 9241-307标准
- VESA FPDM 2.0
- 定制（用户自定义）测量平台
SS410-XE测量
CCD测量
- 光点亮度分析
- 线宽
- 快速傅立叶转换(FFT’s)
- MTF调制转换函数计算
- 收敛测试
- 几何图（(Pincushion, Linearity, etc.)，可以得到所有几何失真的参数
- 时变性测量(Jitter, Swim, Drift)
光谱仪
- 亮度
- 色度和色温
- 亮度/色彩均匀度
- 可见光谱的频谱图
- 伽马
- 对比度
- 色差
- 3D显示分析
- 3D眼镜测量
RTM(选配)
- 动态模糊/动态伪像/MPRT
- 响应时间和闪光
- 灰阶转换时间
SS410-XE特征
- 高分辨率1392x1040 12位元数字CCD相机
- 衍射光栅光谱仪
- 自动测量
- 实时图像处理
- 模式发生器（模拟和数字驱动）
- 响应时间模组（选配）
- 余弦扩散器
SS410-XE系统简介：
Microvision的SS410-XE显示屏测量系统满足了广泛的测量需求以及具有自动测试和分析功能。SS410-XE是一套全方位钥匙系统，包括了一台计算机控制器，CCD和光谱仪数据采集相机。同时包括了三轴计算机控制定位系统，使得相机系统可快速、自动定位在UUT表面的任何位置。定位系统还能快速连接和断开任何一个SS400系列模组。系统信息展示采用了窗口用户界面以及测试结果生动地展示在简易界面以及可以以文本或者CSV日记文件的格式导出。
自动测试平台
一个测试平台是一套预定义或者用户定义的测量平台。预定义的测量平台专门适用于工业标准，比如ISO,TCO和VESA。 并且提供了电子数据表自动计算出所有通过/失败标准。用户自定义平台可以简单地组装仪器检测可检测列表中所需功能的各个参数。操作简单，菜单驱动界面友好，能在几分钟内兼容各种定制测试平台。每个用户自定义测量平台都可以保存并且能够在未来要使用时重新激活。测试平台同时提供了保存每个测试屏幕到BMP文件的功能，这样大大提高了结果处理的有效性。
系统组件：
机械定位系统
MicroVision的定位系统提供了水平（X），垂直（Y）和纵向（Z）轴移动，全集成了驱动电子，电源和置于水平位置的接口。定位器的控制通过软件控制或者通过使用鼠标或者键盘进行自动操作。
系统软件
SS410-XE系统适用于Win7操作系统，因为在Win7操作系统中GUI可允许系统的易点和点击操作和控制。GUI使得软件操作直观以及提供完成一系列的显示屏分析和测量功能。测量数据以文本文件报告生成，以及以全彩色图的形式展示以便更简单地集成结果。
SS410-XE光学模块
Microvision的SS4410-XE模块可进行空间、光像、时域和色彩测量。模块包括了三个不同的光学系统：CCD相机，衍射光栅光谱仪以及一个选配的响应时间模块(RTM)。具有自动控制机械快门，在没有操作员介入的情况下也可实现偏振/暗电流校准。
光学
SS410-XE光谱仪光学系统包括了一个12mm准直镜头和一个石英消偏器。一个选配的余弦用于测量照度值。SS410-XE CCD光学模块系统包括了一个25MM C Mount 镜头和间隔工具。标准的放大率允许了11MM样本（平方）和可增加间隔或者提高或者减小放大率。提供了Ronchi Ruling用于空间校准。选配的RTM模块采用了一个25MM C Mount镜头。
CCD相机
SS410—XE相机是一款数字化 1392*1040 CCD带有同步捕捉功能和6.45微米元素尺寸，平方。相机可校准到NIST可追溯标准和一个光学滤镜是专门设计用于测量亮度。CCD相机提供了空间和亮度测量。
计算机系统
先进的台式电脑或者可以选择笔记本电脑进行所有系统组件的控制。
光谱仪
SS410-XE是配置了非常高分辨率，多元素，温度控制衍射光栅光谱仪。仪器校准到NIST可追溯标准以及通过使用计算机控制传感稳定温度进行校准。光谱仪提供了亮度和色度的测量，同时可测量整个可见光谱（380nm-780nm）中的频谱图。可选择近红外NIR。光纤组件缆线设定了光从测量表面发出到光谱仪的路径。由此产生的光谱会成像于2048元素CCD探测器以及数据会通过一个16位元 A/D转换器转换到计算机
SS410-XE系统规格参数
高分辨率数字CCD相机：
| 成像传感器： | 1392 x 1040 elements |
| 数字视频： | 12 bit |
| 元素尺寸： | 6.45 μm, square pixels |
| 同步： | Synchronous Capture |
| 滤镜： | Photopic, 50%, 25%, 10%,&1% ND |
| 标准镜头 | 25mm C mount, f1.6 to f16 |
| 视场 | 11 mm Standard, adjustable. |
| 数字变焦： | up to 32X |
| 亮度精度： | +/- 4% @2856K illuminant A |
| 亮度范围： | 0.05 to 106 cd/m2 with ND filters |
| 测量时间： | <1 s for most measurements |
衍射光栅光谱仪
| 光谱范围： | 380 to 780nm (1000nm optional) |
| 亮度范围： | 0.01 to 500K cd/m2 ** |
| 亮度精度： | +/- 3% @ 2856K illuminant A |
| 重复率： | RSD over 30 minutes < 0.5% 0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD |
| 色彩精度： | +/- 0.002 @ 2856K |
| 色彩重复率： | +/- 0.0005 @ 2856K |
| 温度控制： | Computer controlled |
| 光学： | 12mm collimated system |
| 接受角度： | 1.5° standard |
| 集成时间： | 16.7 ms - 5000 ms (sync @ 60Hz) |
| 光学分辨率： | 3.8 nm (slit width 100 μm) |
| 校准： | NIST Traceable calibration |
| 操作温度： | 5o - 30o C |
范围包括了中性滤光片的使用。
Microvision SS410-XE 显示屏光学测试系统信息由广州市固润光电科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Microvision SS410-XE 显示屏光学测试系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
