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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | ZSX Primus III+ |
品牌: | 理学 | 产地: | 日本 |
关注度: | 暂无 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
供应商性质 | 一般经销商 |
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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪,快速定量元素分析的高性能WDXRF!
ZSX Primus III+
理学ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的最低标准的广泛样品类型。
高度可靠性的上照射式光学系统
ZSX Primus III+具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。
高精度样品定位
高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置执行高精度分析,用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。
SQX 基本参数软件与EZ扫描软件
用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件,快速提供最准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子(轻、超轻元素)、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。
Features
从O到U的元素分析
上照射式光学最小化污染
小占地面积节省实验室空间
高精度样品定位
特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误
统计过程控制(SPC)的软件工具
优化抽空和真空泄露率改善吞吐量
日本理学波长色散X射线荧光光谱仪信息由广州仪德精密科学仪器股份有限公司为您提供,如您想了解更多关于日本理学波长色散X射线荧光光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途