X射线镀层膜厚仪
 

　　产品类型：能量色散 X 荧光光谱分析设备
 

　　产品名称：X射线镀层膜厚仪
 

　　型 号：iEDX-150WT
 

　　生 产 商：韩国 ISP 公司
 

　　特点：该型仪器采用开槽式大平台设计，适合测试扁平状大面积样品，适合线路板及连接器行业的镀层厚度管控。
 

        (一)iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪产品优势

　　1. 镀层检测，多镀层检测可达 5 层，精度及稳定性高。
 

　　2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达 110*110*5mm。(固定台可选)
 

　　3. 激光定位和自动多点测量功能。
 

　　4. 可检测固体、粉末状态材料。
 

　　5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。
 

　　6. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。
 

　　7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结
 

　　果。
 

　　8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
 

　　9. 软件*升级。
 

　　10. 无损检测，一次性购买标样可长期使用。
 

　　11. 使用安心无忧，售后服务响应时间 24H 以内，提供*保姆式服务。
 

　　(二)iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪配置及技术指标
 

　　1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶
 

　　铍窗口， 阳极焦斑尺寸 75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。
 

　　50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。
 

　　2. 探测器：SDD 探测器(可选Si-Pin)
 

　　能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
 

　　3. 滤光片/可选
 

　　初级滤光片：Al滤光片，自动切换
 

　　7个准直器：客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
 

　　(三)X射线镀层测厚仪测量原理
 

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途