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使用激光剥蚀与 Agilent 7900 ICP-MS 联用对高纯金属进行定量分析
发布时间：
2018-11-28 11:21
来源：
安捷伦科技（中国）有限公司
| 样品： | 高纯度金属 | 项目： | 定量分析 |
| 方案文件名 | 下载 |
|---|---|
使用激光剥蚀与 Agilent 7900 ICP-MS 联用对高纯金属进行定量分析 |
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激光剥蚀-ICP-MS (LA-ICP-MS) 可用于固体样品和粉末中的元素分析， 其中包括地质材料、陶瓷、生物组织和法医样品。本研究使用两种 校准策略（基质匹配和非基质匹配）对高纯度金属进行定量分析。 LA-ICP-MS 可直接分析固体样品，因此与标准液体样品进样相比，固 体样品只需极少的样品前处理步骤。由于无需溶出过程，降低了分析 物损失的风险，也避免了引入污染物。但是，由于缺少固体校准标 样，LA-ICP-MS 分析可能难以实现精确定量分析。用于固体样品分析 的校准标样比用于液体样品分析的校准标样更难以制备，含合适浓度 分析物的基质匹配的固体校准标样也比较少见。在金属行业等少数领 域中可能已经获得特征明确的基质匹配标准品，因为电弧/火花或辉 光放电 (GD) 光学发射光谱 (OES) 等成熟分析技术中使用固体标样。
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