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领域: | 纳米材料 | ||
样品: | SiO2 纳米材料 | 项目: | 表征 |
方案文件名 | 下载 |
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单颗粒电感耦合等离子体串联质谱用于纳米态 SiO2 的表征 |
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纳米 SiO2 材料的应用范围的不断扩展引发了对其环境和健康危害性的关注,这种需求促生了用于 SiO2 纳米材料直接测定和表征的新方法的开发,虽然 SP-ICP-MS 技术已经确认是可用于纳米颗粒物浓度和粒径的直接表征方法,但是由于 Si 元素在质谱测定中会面临的强质谱重叠干扰,传统单级质谱存在定量难度,本文利用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 串联质谱的强干扰消除能力,实现了 Si 元素的无干扰测定,从而完成了使用 SP-ICP-MS/MS 对 SiO2 纳米材料的直接表征。
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