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利用ICP-MS 对太阳能（光伏）级硅块进行超痕量分析
发布时间：
2021-04-08 15:17
来源：
安捷伦科技（中国）有限公司
| 领域： | 生物质材料 | ||
| 样品： | 太阳能（光伏）级硅块 | 项目： | 超痕量元素杂质 |
| 方案文件名 | 下载 |
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利用ICP-MS 对太阳能（光伏）级硅块进行超痕量分析 |
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本文介绍了一种使用Agilent 7500cs ICP-MS 测定光伏级硅中存在的超痕量元素杂质的新型定量方法。硼（挥发性元素）和磷（受Si 基干扰）对该行业尤其重要；因此，为了利用ICP-MS 分析这些元素，应特别注意样品预处理阶段。在验证样品前处理策略的过程中，所有元素均获得了良好的回收率。提供了13 种不同Si 样品中存在的一系列元素的示例数据，以及检测限列表。可以测定固体中低至ppb 级的B 和P，并可以测量ppt 级所研究的其他元素。
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