安捷伦Agilent 5900 SVDV ICP-OES 5900 ICP-OES 可用于测定复杂样品，适用于痕量元素项目。并且参考多项行业标准暂无。可应用于其它环境/能源行业领域。

Agilent 5900 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 通过一系列操作、性能和分析效率方面的改善，颠覆了传统双向观测 ICP-OES 概念。专为希望高效运行样品，并使每个样品分析的成本降到最低的高样品通量实验室而设计。
5900 SVDV ICP-OES 包括独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，该技术可在单次测量中采集并组合垂直等离子体发出的全波段范围内的轴向和径向光。5900 还包括高速Vista Chip II CCD 检测器和集成的 AVS 6/7 高级阀系统切换阀作为标配。这三种技术的结合造就了分析单个样品速度块、气体消耗量最小的 ICP-OES。水平观测垂直炬管和冷锥接口 (CCI) 等其他功能使 5900 能够分析高盐样品、挥发性有机溶剂和腐蚀性样品基质。凭借在宽线性动态范围 (LDR) 内分析多个元素的能力，最大程度减少了额外的样品稀释或同一样品多次读数的需要，进一步提高了样品通量。5900 SVDV ICP-OES 出色的稳定性可确保减少样品重新测量的需求，并最大程度缩短仪器停机时间。

Agilent 5900 SVDV ICP-OES 系统是一种发射光谱仪，专为要求最为严格的高通量实验室而设计。利用该系统，您可以在更短时间内以低于其他任何 ICP-OES 仪器的样品成本获得可靠答案。

凭借创新的自由曲面光学设计与包含众多内置传感器、算法和诊断功能的智能化监控体系，以及针对最大程度提高通量而进行的全面优化，5900 SVDV ICP-OES 可确保让您在竞争中脱颖而出。

• 采用同步垂直双向观测 (SVDV)，实验室能够以较低成本运行更多样品，该观测模式凭借独特的智能光谱组合技术 (DSC)，可在一次读数过程中同时获得轴向和径向的等离子体观测数据，从而实现高速高效的样品分析，确保复杂基质样品的分析准确度。

• 使用 5900 ICP OES 随附的集成式高级阀系统 (AVS)，加快分析速度并大大减少氩气用量，同时实现高精度的分析。

• 在数秒内开始采集数据，无需选择使用 IntelliQuant Screening 分析的元素或波长

• 使用安捷伦独有的 IntelliQuant 功能，了解有关样品的更多信息。IntelliQuant 能够采集整个波长范围内的数据，识别光谱干扰并为您提供建议，确保您始终获得准确结果。

• 通过传感器和计数器进行智能仪器状态追踪，并在系统需要维护时为用户提供指导，助您有效缩短停机时间、降低维护成本。

• Neb Alert 功能可持续监测雾化器，并在雾化器需要清洁或发生泄漏时提醒您，从而避免时间浪费和故障排除成本。

• 内置于 ICP Expert 软件的智能算法使方法开发更有据可依，并能实现自动化故障排除，包括：拟合背景校正 (FBC)、快速自动曲线拟合技术 (FACT)、元素间干扰校正 (IEC)、IntelliQuant 和智能冲洗。

• 利用 ICP Expert Pro 软件提高分析效率和增强质量控制，该软件为用户提供了实时导出到 Microsoft Excel、自定义重复检测、集成的 prepFAST 自动稀释器操作、速率驱动的 QC 以及其他高级软件功能。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途