伯东 inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545用于芯片可靠性测试

上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用

功能测试, 是测试芯片的参数、指针、功能, 用人话说就是看你十月怀胎生下来的宝贝是骡子是马拉出来遛遛. 性能测试, 由于芯片在生产制造过程中, 有无数可能的引入缺陷的步骤, 即使是同一批晶圆和封装成品, 芯片也各有好坏, 所以需要进行筛选, 本文主要介绍上海伯东inTEST ATS-545在芯片可靠性测试上的应用.

上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用的原因:

类似于鸡蛋里挑石头, 把“石头”芯片丢掉. 可靠性测试, 芯片通过了功能与性能测试, 得到了好的芯片, 但是芯片会不会被冬天里最讨厌的静电弄坏, 在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作, 以及芯片能用一个月、一年还是十年等等, 这些都要通过可靠性测试进行评估. 因此需要在不同温度环境下对模拟芯片进行性能测试, 以确保能在综合复杂的环境中正常使用, 客户最终选择了ATS-545高低温冲击机进行测试.

芯片可靠性测试方法:

具体做法如下:

1.将芯片放置于已做好的工装中；

2.将sensor一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触；

3.将高低温冲击测试机ATS-545热流罩转到工装平台并下压固定；

4.启动高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机加热至需要测试的温度点；

5.启动芯片测试设备对芯片在-45度及84度下进行性能测试并记录数据；

高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机在芯片可靠性测试的客户案例:

成都某微电子, 通过伯东购买高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机

伯东高低温冲击测试机ATS-545产品优势:

1.温度范围 -75°C 至 +225°C

2.专利 ESD 防静电保护设计

3.不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却.

4.inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.

inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机ATS-545 技术参数:

* 一般测试环境下; 变温速率可调节

美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热测系统研发专家, 热销产品 Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机, ThermoSpot 台式高低温测试机, Thermochuck 以及 Chillers 制冷机. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic.

inTEST 高低温测试机广泛应用于安捷伦 Agilent, 台积电 TSMC, IBM 等半导体, PCB 电路板, 光通讯和电子行业.

上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机等进口知名品牌的指定代理商.

若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:

上海伯东: 罗先生                                   台湾伯东: 王小姐
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