布鲁克（北京）科技有限公司-纳米分析仪器
400-6699-117转1000
首页 公司简介 新闻动态 产品展示 应用文献 资料下载 视频 直播 媒体关注 微信文章 咨询留言 联系我们
热门搜索：
分析测试百科网 > BRUKER NANO ANALYTICS > X射线能谱仪(EDS)
白银会员

诚信认证:

工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
产品分类
X射线能谱仪(EDS)
平插式能谱仪
平插式能谱仪
在线客服
咨询留言
QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM......
TEM
TEM QUANTAX EDS
在线客服
咨询留言
TEM、STEM 和 SEM （T-SEM） 中纳米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM ED......
SEM
SEM QUANTAX EDS
在线客服
咨询留言
布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列，探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。第 6 代 EDS 提供硬件和软......
分析测试百科网 | 站点地图 | 律师声明 | 关于我们 | 改善您的体验 | 友情链接 | 联系我们 产品列表
移动版： 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号