DART(Direct Analysis in Real Time即时直接分析)是无需样品制备的、能进行快速分析的新型离子源。 DART于2003年诞生于日本电......
JMS-700高分辨质谱仪全部采用电脑控制，离子源和各种参数具有自动调谐功能，不仅是常规测试，利用高分辨测试等所有模式都能容易地获得高质量的分析结果。高灵敏度M......
MS-800D UltraFOCUS™ 是进行超低浓度分析的最佳选择，采用高分辨选择离子监测模式（HRSIM）适合二恶英及相关化合物如:二恶英、多氯联苯(PCB......
在科研领域的最前沿，对微量气体成分的现场原位分析的需求越来越高，日本电子为满足科研人员这一愿望而推出的JMS-MT3010HRGA，采用了最新的Multi-Tu......
JMS-S3000采用日本电子独自研发的SpiralTOF模式离子光学系统，它创新的技术在学术界已广为人知，其超高的质量分辨率和质量准确度，遥遥领先于传统的装置......
第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。......
JES-X3系列电子自旋共振谱仪，经过进一步改良低噪音耿氏振荡器，达到了极高的灵敏度。灵敏度提高了30％！ （与本公司的旧机型FA系列比较）由于人们已......
JNM-ECZR系列是高度结合了最新数字技术和高频技术研制的脉冲傅里叶变换核磁共振仪。电路的高度集成化提高了谱仪的可靠性、实现了机体的小型化，谱仪对多通道操作、......
JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法・检量线法）、RoHS元素筛选功能等。 利用丰富的......
JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后，能对样品表面进行SIM观察 、研磨......
随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求，JEOL推出新一代双束加工......
可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。检测元素范围WDS：(Be)*1 /B～U, ED......
2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针（FE-EPMA），此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域，并获得了极高的赞誉。最新研发的第三代场发射......
JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-E......
JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化EPMA。检测......
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的......
用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）......
易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。......
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