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| 参考报价： | 面议 | 型号： | MarSurf XCR 20 |
| 品牌： | EPK | 产地： | 国外 |
| 关注度： | 811 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机
MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机是轮廓和粗糙度测量的理想选择。一个测量站适合两种测量任务, 包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱。
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20
描述
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。
此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。
两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓（PCV 或 CD 120）测量。
结合 XCR 20 测量和评定软件，此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。
主要优势有：
一个测量站适合两种测量任务
* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统（如上文所述）。
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度
另外，此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。
技术参数:
接触速度(Z方向) | 0.1-1mm/s |
测杆长度 | 175mm，350mm |
测量速度（文本） | 0.2mm/s至4mm/s |
针尖半径 | 25 |
扫描长度末尾（X方向） | 200mm |
分辨率 | Z方向，相对探针针头： 0.38μm（350mm测杆）/0.19μm（175mm测杆） Z方向，相对测量系统：0.04μm |
扫描长度开始（X方向） | 0.2mm |
取样角 | 在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至88°，前缘高至77° |
定位速度（文本） | X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s |
导块偏差 | ＜1μm（200mm以上） |
测量原则 | 探针法 |
输入 | R测头，MFW250 光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置） |
测量范围mm | （in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（最高±750μm）；±1000μm,±10000μm（最高±30000μm） |
扫描长度（文本） | 自动；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm， （.022/.070/.224/.700/2.240英寸） 测量至挡块，可变 |
采样长度数量符合ISO/JIS | 1至50（默认：5） |
测量力(N) | 1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中设置） |
测量站配件
标准
MarSurf XCR 20
包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥
MarWin PC*
TFT 24“ 显示器
MCP 21 手动控制面板
GD 25 驱动单元
MFW 250 B 测头系统套件
PCV 200 驱动单元
标准轮廓校准套件
ST-500 测量立柱
GD 25 和 PCV 联合支架
CT 300 XY 工作台
可选：
PPS 平口虎钳
轮廓仪和粗糙度仪测量一体机信息由北京创诚致佳科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于轮廓仪和粗糙度仪测量一体机报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
