涂层测厚仪 涂层测厚仪EPK涂镀层及薄膜测厚仪

MiniTest1100/2100/3100/4100有四种不同的主机，每种主机具有独特的数据处理功能；所有型号都可与任何探头配合使用；可以通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；可以使用一片或两片标准箔进行校准。任何探头都可以与任何主机配合使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度、基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：用于测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头：用于测量有色金属基体上的绝缘覆层 
FN两用探头：具备F型和N型探头的功能
涂层测厚仪技术参数：
型号1100210031004100MINITEST：
存储的数据量应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)：111099
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值)：-11099
可用各自的日期和时间标识特性的组数：-1500500
数据总量：1100001000010000MINITEST
统计计算功能：
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar-√√√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar--√√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据---√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值--√√
显示并打印测量值、打印的日期和时间-√√√
其他功能设置极限值--√√
连续测量模式：
快速测量，通过模拟柱识别*大*小值--√√
连续测量模式中测量稳定后显示读数--√√
连续测量模式中显示*小值--√√
探头量程：
低端分辨率误差*小曲率半径*小测量区域直径*小基体厚度
探头尺寸 (mm)：
磁 感 应 法：
F050-500um，0.1um，±(1%±0.7um)，1/5mm，3mm，0.2mm，φ15x62
F1.60-1600um，0.1um，±(1%±1um)，1.5/10mm，5mm，0.5mm，φ15x62
F1.6/900-1600um，0.1um，±(1%±1um)，平面/6mm，5mm，0.5mm，φ8x8x170
F2/900-2000um，0.2um，±(1%±1um)，平面/6mm，5mm，0.5mm，φ8x8x170
F30-3000um，0.2um，±(1%±1um)，1.5/10mm，5mm，0.5mm，φ15x62
F100-10mm，5um，±(1%±10um)，5/16mm，20mm，1mm，φ25x46
F200-20mm，10um，±(1%±10um)，10/30mm，40mm，2mm，φ40x66
F500-50mm，10um，±(3%±50um)，50/200mm，300mm，2mm，φ45x70
两 用FN1.60-1600um，0.1um，±(1%±1um)，1.5/10mm，5mm，F0.5mm/N50um，φ15x62
FN1.6P0-1600um，0.1um，±(1%±1um)，平面30mm，F0.5mm/N50um，φ21x89
FN20-2000um，0.2um，±(1%±1um)，1.5/10mm，5mm，F0.5mm/N50um，φ15x62
电 涡 流 法：
N020-200um，0.1um，±(1%±0.5um)，1/10mm，2mm，50um，φ16x70
N.08Cr0-80um，0.1um，±(1%±1um)，2.5mm，2mm，100um，φ15x62
N1.60-1600um，0.1um，±(1%±1um)，1.5/10mm，2mm，50um，φ15x62
N1.6/900-1600um，0.1um，±(1%±1um)，平面/10mm，5mm，50um，φ13x13x170
N2/900-2000um，0.2um，±(1%±1um)，平面/10mm，5mm，50um，φ13x13x170
N100-10mm，10um，±(1%±25um)，25/100mm，50mm，50um，φ60x50
N200-20mm，10um，±(1%±50um)，25/100mm，70mm，50um，φ65x75
N1000-100mm，100um，±(1%±0.3mm)，100mm/平面，200mm，50um，φ126x155
CN0210-200um，0.2um，±(1%±1um)，平面7mm，无限制，φ17x80

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