IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。
 
仪器特点：
1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。
4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。
5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。
6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。
7．在测量过程中不损伤被测样品。
8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。
主要技术指标

1. 测量波段：3～5um、8～14um、1～22um

(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)
2．发射率测量范围：0.1～0.99
3．灵敏度NE△ε：0.001
4．示值误差：±0.02 (ε>0.50)
5．重复性：±0.01
6．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)
7．样品尺寸：Ф50mm
8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示ε测量值。
9．显示方法：LED数字显示，末位0.001
10.电 源： 交流220V 50HZ

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途