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Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜
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Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜
发布时间:2024-02-15
Helios 5 PFIB UXe DualBeam Enabling breakthrough innovations with DualBeam technology—faster and easier than ever before
Helios 5 CX DualBeam 双束扫描透射电镜
发布时间:2024-02-15
Helios 5 CX DualBeam Enabling breakthrough innovations with DualBeam technology—faster and easier than ever before
Helios 5 UX DualBeam双束扫描电镜用于半导体
发布时间:2024-02-15
Helios 5 UX DualBeam for Semiconductors Enabling breakthrough innovations in the semiconductor industry with DualBeam Technology
Helios-5-UX-DualBeam等离子聚焦离子束扫描电子显微镜 新
发布时间:2024-02-15
Helios 5 UX DualBeam Enabling breakthrough innovations with DualBeam technology—faster and easier than ever before
Helios 5 HX DualBeam等离子聚焦离子束扫描电子显微镜 半导体
发布时间:2024-02-15
Helios 5 HX DualBeam System High-throughput, high quality TEM sample preparation for 7 nm devices
Helios 5 Hydra CX DualBeam 等离子聚焦离子束扫描电子显微镜
发布时间:2024-02-15
Helios 5 Hydra CX DualBeam Enabling breakthrough innovations with DualBeam technology—faster and easier than ever before
Hydra Bio Plasma-FIB
发布时间:2024-02-15
Hydra Bio Plasma-FIB Breakthrough capabilities for cryogenic and room temperature volume EM, and highly versatile lamella preparation for the cry
Helios 5 Hydra UX DualBeam等离子聚焦离子束扫描电子显微镜
发布时间:2024-02-15
Enabling breakthrough innovations with DualBeam technology—faster and easier than ever before
赛默飞200 kV冷冻透射电镜Glacios 2冷冻 TEM参数
发布时间:2024-02-15
主要优点 -高分辨率结构测定 Glacios 2 Cryo-TEM 提供近原子分辨率。由于采用改进硬件和尽量减少环境影响的新外壳,Glacios 2 Cryo-TEM 现在的信息极限为 2.1 Å。同样,冰层生长导致的传输损失在24小时内已经降至 2%,帮助您以更少的工作量采集更高分辨率的
赛默飞200 kV冷冻透射电镜Glacios 2冷冻 TEM
发布时间:2024-02-15
Thermo Scientific™ Glacios™ 2 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) 为高分辨率、高通量大分子结构测定提供了完整的解决方案。其具有 200 kV XFEG 光学器件、行业领先的自动上样器(低温样品操作机器人)以及同样的创新自动化,以便轻松用作 Krios G4 Cry
赛默飞Metrios AX TEM半导体计量透射电镜
发布时间:2024-02-15
赛默飞Metrios AX TEM半导体计量透射电镜
赛默飞(原FEI)Talos L120C TEM透射电子显微镜
发布时间:2024-02-15
赛默飞120 kV透射电镜Talos L120C TEM更高稳定性4k × 4K Ceta CMOS 相机25 – 650 k 倍 TEM 放大范围灵活的 EDS 分析可提供化学信息
赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电子显微镜
发布时间:2024-02-14
用于光束敏感材料高对比度成像的 TEM 和 STEM 分析。
赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM
发布时间:2024-02-14
适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。
赛默飞最干净的能谱透射电镜Talos F200S TEM
发布时间:2024-02-14
TEM 显微镜用于高生产率、高分辨率 TEM 和 STEM 表征,并具有化学定量功能。
赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM
发布时间:2024-02-14
Talos F200i TEM用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。
赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
发布时间:2024-02-07
Thermo Scientific Meridian EX 系统是一种基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。它采用突破性的电子束技术,可以从设备的正面或背面探测复杂的布线网络。与光学方法相比分辨率提高了 10倍,确保了对最先进的半导体器件进行快速、准确和可靠的缺陷分析。
赛默飞Metrios 6扫描透射电子显微镜((S)TEM)
发布时间:2024-02-06
新一代全自动化(S)TEM参考计量平台为高容量、可扩展的计量工作流程而开发
赛默飞(原FEI)Tundra 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM)
发布时间:2024-02-06
Thermo Scientific Tundra 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM) 是一种特制的结构测定解决方案,旨在为每个生物化学实验室提供单颗粒分析技术。它比典型的 cryo-TEM 仪器更易于使用,适合标准实验室空间,并与全球资助机制和融资机会相匹配。Tundra Cryo-TEM 是
赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
发布时间:2024-02-06
最新一代的 cryo-DualBeam 系统。它专用于为高分辨率冷冻电子断层扫描或微晶 MicroED 制备电子透明的薄片。
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