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PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪

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参考报价: 面议 型号: PHI nanoTOF II
品牌: 爱发科 产地: 日本
关注度: 2 信息完整度:
样本: 下载 典型用户: 暂无
产地属性亚洲仪器种类飞行时间
价格范围500万-1000万
质量分辨率 低质量时质量分辨率:m/z = 28 (Si+)和29 (SiH+) 的m/∆m ≥ 12,000质量分析范围 高质量时质量分辨率:m/z > 200的m/∆m ≥ 16,000 质量范围:1~12000 amu以上; 离子束能量范围:15 ~ 30 keV;
原始束流或速能量 Bi初级离子源≥ 20 nA

PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™

TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术,可检测表面分子成分和分布,元素及其同位素。所有元素和同位素,包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子,经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比,从而得知样品表面信息。

  PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器,该仪器具有独特的专利飞行时间(TOF)分析仪,它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围,它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器,实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力,可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。

 

特点:立体收集角度大和深景深

二次离子以不同的初始能量和角度

从样品表面飞出,因此,即使是质量

完全相同的离子,在分析仪内的飞行

时间也会产生差异,飞行时间差是导

致质量分辨率变差的原因之一。

NanoTOFⅡ采用的是三重聚焦静电分

析仪(TRIFT型),可以同时矫正由初

始能量和发射角的差异而发生的飞行

时间差异而发生的飞行时间差。

TRIFT型分析仪的最大的优势,就是同时实现了高质量分辨率和高检测灵敏度,并且成像没有阴影。

                      




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                                                                             图2(a)不同飞出角度的二次离子飞行轨迹示意图

2(b) 断裂陶瓷截面示意图及二次离子分布图

 

 

同时实现高空间及高能量分辨模式:nanoTOF Ⅱ安装了新开发的离子枪(对应的源为Bi,Au,Ga),空间分辨率最小能达到70纳米(Bi3++)。此外,在新设计的脉冲压缩(Bunched)机理下,可采用高质量分辨率模式,实现500纳米或以下(Bi3++)的空间分辨率,其增加了三倍以上的电流密度,同时提高了灵敏度,空间分辨率和质量分辨率。


 

 

 

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图-3 b)旧型号仪器像

图-3 c)nanoTOF II成像




视野范围最小可至5微米:下图显示的是在较高的空间分辨率下,PS/PMMA聚合物的成像。传统上来说,聚合物的分子分布结构,只能用AFM观察,但在这里,nanoTOF II也能做到。


 


注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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