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ASI J200 TANDEM 复合系统

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参考报价: 面议 型号: J200 TANDEM
品牌: ASI Hemoflow 产地: 美国
关注度: 2 信息完整度:
样本: 暂无样本 典型用户: 暂无
产地属性中国大陆仪器种类台式
仪器集成一体化价格范围200万-300万

J200 LA-LIBS复合系统特色 
     高稳定Q开关, 短脉冲Nd:YAG 激光 ,可选择多波长 < 5 nsec at 213 nm ,创新的模组化设,为独立 LA, LIBS, LA - LIBS 复合的系统设计。因分析需求,提供三种LIBS 检测器选择 ,激光剥蚀均匀且一致性的LA系统 。
稳定激光能量的光闸设置 
      高分辨双CMOS相机系统, 可用于宽视野观测样品表面特征 。应用光谱公司的 Flex 样品室内置气体模组可优化气流和颗粒清洁能力,满足不同测量要求,先进的微集气管设计,可尽可能的减少排气,防止集结剥蚀颗粒,消除记忆影响。 
      双通道高精度质量流量控制器和电子控制阀 
      Axiom LA 软件系统 
      软件可整合控制硬件组件及ICP-MS 同pu步操作,轻松实现繁杂的激光采样与分析模式 ,强大的数据分析工具用于繁杂的LIBS and LA-ICP-MS 串联光谱分析,LIBS 化学计量法软件分辨分类分析  
      灵活的分析方法:全分析,夹杂物分析,斑点分析,深度分析和元素分映像 
      维护成本低 
      可扩充升级LA – LIBS 复合系统 
      可扩充升级飞秒 LA 系统 

      自动样品高度调整功能 
      J200激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合系统采用ASI专利技术:剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合,解决了若样品表面凹凸不平而剥蚀不均、导致元素含量值误差大的问题;激光能量稳定阀确保了到达样品表面的激光能量均匀,使所有采样点的激光烧蚀均匀一致;3-D全自动操作台最大行程可达100mmx100mmx36mm,XY行程分辨率0.2μm,Z行程分辨率0.1μm, 优于其它任何同类产品。 
      J200激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合系统采用ASI专利技术可对固、液、气等样品进行全元素LIBS快速检测,同时可将固体样品的剥蚀颗粒或者液体样品直接送入ICP-MS系统,实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾,也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的样品前处理过程及可能引入的二次污染。 
     J200激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合系统配置有高适连接口,轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 
     J200激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合系统配备有固体样品室,还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室,并通过设置可自动切换的光路系统,实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换,测量过程中无需人为拆卸。

 J200激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合系统配置:

     主机系统:包括激光器及控制系统,激光传输光学元件,样品台、样品室、气体管路系统等、样品成像系统等; 

      等离子体光谱检测器:Czerny Turner光谱仪/ICCD相机、阶梯光栅光谱仪/ICCD相机、同步4/6通道CCD光谱仪三种LIBS检测器可选; 
      软件系统:系统操作软件、数据分析软件、TruLIBS发射光谱数据库、化学统计软件。


注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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