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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列

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参考报价: 面议 型号: O系列
品牌: 博曼 产地: 美国
关注度: 11 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
产地类别进口供应商性质生产商
价格范围100万-200万
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博曼O系列产品概述:

O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果(准确性和重复性)。

该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数,拥有45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整。

 

博曼O系列可满足以下类型用户的需求:

- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB

- 需要测试多个样品的多个位置

- 需要测量非常薄的涂层(<100nm)

- 需要在短时间内完成测量(1-5秒)

- 符合IPC-4552A

 

博曼O系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:


相机:

电源:

重量:

可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构

135eV及以上分辨率的硅漂移探测器

5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素

2位置一次过滤器

固定焦距(0.1")

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X双摄像头或45X单摄像头

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

53kg

平台尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"

高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13")

高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")


关于美国博曼:

美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。


博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列信息由安柏来科学仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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