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分析测试百科网 > 博曼 > X射线荧光测厚仪 > 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 G系列

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 G系列

参考报价: 面议 型号: G系列
品牌: 博曼 产地: 美国
关注度: 10 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
产地类别进口供应商性质一般经销商
价格范围10万-20万
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博曼G系列产品概述:

G系列是博曼具性价比的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

G系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。

 

博曼G系列可满足以下类型用户的需求:

- 样品测试量相对较小

- 客户或供应商对于镀层提出了新要求

- 主要分析珠宝或其他贵金属

- 预留摆放空间小

- 预算有限

 

博曼G系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:


相机:

电源:

重量:

马达控制/可编程XY平台:

延伸可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层,每层可分析10种元素,成分分析可分析25种元素

4位置一次过滤器/双规格准直器

激光单定焦距

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

25kg

不可用

不可用

高度:125mm(5"),宽度:380mm(15"),深度:300mm(12")

高度:400mm(16"),宽度:400mm(16"),深度:380mm(15")


博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 G系列信息由上海桑结实业有限公司为您提供,如您想了解更多关于博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 G系列报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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