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武汉嘉仪通科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | MRS |
| 品牌： | 嘉仪通 | 产地： | 湖北 |
| 关注度： | 52 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 价格范围 | 10万-50万 |
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薄膜热电参数测试系统产品特点
● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
● 测试环境温度范围达到81K~700K。
● 采用动态法测量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
● 采用四线法测量电阻率。
● 热电偶探针经过严格的筛选配对保证测试结果的准确和稳定。
● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。
薄膜热电参数测试系统测试实例
标准镍带测试结果
东华大学MoS2测试结果
MRS-3对Bi2Te3薄膜测试结果（中国科学院电工研究所提供样品）
MRS-3对Bi2Te3薄膜测试结果（中国科学院电工研究所提供样品）
薄膜热电参数测试系统技术参数
型号 | MRS-3 | MRS-3RT |
环境温度 | 81K~700K | RT |
温控方式 | PID程序控制 | \ |
真空度 | ≤ 1Pa | \ |
测试气氛 | 真空 | 空气 |
测量范围 | 泽贝克系数：S ≥ 8μV/K； 电阻率：0.1μΩ?m ~ 1000KμΩ?m | |
分辨率 | 泽贝克系数：0.05μV/K； 电阻率：0.05μΩ?m | |
相对误差 | 泽贝克系数 ≤ 7%，电阻率 ≤ 5% | |
测量模式 | 自动 | |
样品尺寸 | 长 x 宽:(10~18)x(4~14)mm2,薄膜厚度≥50nm | |
主机尺寸 | 采集箱：470x400x140，单位mm | 170x250x220，单位mm |
重量 | 31.9kg | 3.5kg |
薄膜热电参数测试系统样品要求
●样品满足上述样品尺寸，待测面需平整，薄膜均匀性好，保证与铜片接触良好
●薄膜材料厚度最低可至100nm，其均匀性有较高要求，薄膜厚度达到微米级别较好
●薄膜材料的衬底需选择电阻率较大或绝缘材料为宜，如玻璃、Si等材料
薄膜热电参数测试系统技术原理
动态法：测量Seebeck系数
在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差，通过记录样品两端温差和热电势的变化，然后将温差和热电势拟合成一条直线，直线斜率即为该材料在该温场下的Seebeck系数。
采用四线法测量电阻率。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
