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武汉嘉仪通科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | Namicro-3LT |
| 品牌： | 嘉仪通 | 产地： | 湖北 |
| 关注度： | 68 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 价格范围 | 10万-50万 |
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Namicro-3LT采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。
Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
热电参数测试系统产品特点
● 拥有独立知识产权，获得多项技术专利。
● 采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
● 热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
● 炉壳过温报警，自动断电保护。
● 友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。
热电参数测试系统技术参数
型号 | Namicro-3LT |
温度范围 | RT~800°C |
温控方式 | PID程序控制 |
最大升温速率 | 50°C/min |
真空度 | ≤50Pa |
测试气氛 | 真空 |
测量范围 | 泽贝克系数：S ≥ 8μV/K； 电阻率：0.1μΩ?m ~ 106KμΩ?m |
分辨率 | 泽贝克系数：0.05μV/K； 电阻率：0.05μΩ?m |
相对误差 | 泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
测量模式 | 自动 |
样品尺寸 | 块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm |
主机尺寸 | 1000 x 400 x 500，单位mm |
重量 | 75kg |
热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
动态测量法
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差?T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
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四探针法
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
