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半导体制冷台

半导体制冷台 液氮低温恒温台

关键词:半导体制冷台  液氮制冷台 液氮低温恒温器 嘉仪通LNT系列半导体制冷台也被称为高低温冷热台,该设备是利用稳态气泡原理使样品处于恒定......
真空快速退火炉

真空快速退火炉 半导体RTP\RTA\RTN设备

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高低温台

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嘉仪通LNT系列高低温台也被称为高低温冷热台,该设备是利用稳态气泡原理使样品处于恒定或按照所需方式变化的低温环境中(温度范围为78K-800K,-195.15℃......
快速退火炉厂家

快速退火炉厂家

武汉嘉仪通科技有限公司成立于2009年,是一家技术自主创新的国家新技术企业。公司集快速退火炉研发、市场和技术服务于一体的快速退火炉厂家,本公司生产销售的快速退火......
液氮低温恒温台

液氮低温恒温台 实验室连续可调低温环境

液氮低温恒温台 实验室连续可调低温环境,是利用稳态气泡原理使样品处于恒定或按照所需方式变化的低温环境中(温度范围为78K-800K),并能对样品进行一种或多种物......
晶化快速退火炉

晶化快速退火炉 嘉仪通 半导体退火设备

晶化快速退火炉 嘉仪通 半导体退火设备采用红外辐射加热技术,可实现1吋(选配2吋)样品快速升温和降温,同时搭配超高精度温度控制系统,可达到极佳的温场均匀性,对薄......
石墨烯快速退火炉RTP

石墨烯快速退火炉RTP

石墨烯快速退火炉RTP-3-01是根据石墨烯材料(氧化石墨烯、石墨烯复合材料等)独特的退火要求,专项研发出的一款快速退火炉。其采用红外辐射加热技术同时搭配高精度......
红外快速退火炉

红外快速退火炉 RTP-3-06

红外快速退火炉 RTP-3-06产品特点 高质量部件:循环水路设计,带过滤部件,延长清洗炉体水路;红外灯管寿命高达5000小时,峰值波长约为1.25微米,炉体工......
快速退火炉RTP

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快速退火炉RTP-3-04,采用红外辐射加热技术,可实现大尺寸样品(4英寸)快速升温和降温,同时搭配超高精度温度控制系统,可达到极佳的温场均匀性,对材料的快速热......
液氮低温恒温器

液氮低温恒温器

液氮低温恒温器产品特点 温度范围78K-800K:提供特殊应用的低温环境,低温可达78K,高温可达800K。 提供二或四面光学窗口:配备透明......
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Joule Yacht 热膨胀系数分析仪 TEA-1200

TEA采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。热膨胀系数分......
光功率热分析仪(OPA)

光功率热分析仪(OPA)

光功率热分析仪产品特点  嘉仪通科技研发的OPA是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪,填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白......
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Joule Yacht 薄膜热电参数测试系统 MRS

薄膜热电参数测试系统产品特点 ●   专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。 ●   测试环境温度范围达到8......
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Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT

Namicro-3LT采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍......
便携式泽贝克系数测试仪PTM-3

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便携式泽贝克系数测试仪 PTM 是一款测试热电材料Seebeck系数(常温)的专业仪器。该仪器可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的See......
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-HT

薄膜热导率测试系统产品特点  ●   不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米......
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-RT

薄膜热导率测试系统产品特点  ●   不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米......
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Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA

光功率热分析仪产品特点  嘉仪通科技研发的光功热分析仪OPA是台纳米级薄膜材料物性分析仪,填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技......
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Joule Yacht 相变温度分析仪 PCA-1200

相变温度分析仪产品特点 PCA根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性,在程序控温下,使用一束恒定功率的激光照射样品表面,记录反射光功率变化,形成......
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Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET

霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO......
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