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薄膜测厚仪
参考报价: 面议 型号: NanoMap-WLS
品牌: 阿尔派 产地: 美国
关注度: 12 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
产地类别进口供应商性质生产商
价格范围1万-2万
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薄膜测厚仪

仪器简介:

提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

膜厚仪主要特点:

◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
◆多种测量功能
将采样数据运算后,可获得精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。

NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI膜厚仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围,可定制的波长范范围,使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

测量表面可以覆盖90%以上材料表面。设备传感器精度高,稳定性好,材料应用面广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.01 nm ( phase-shift mode) 可测跨学科、跨领域的各种样品表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
 
 
膜厚仪
参数性能追寻持续改进的目标
 
AEP的技术致力于日新月异的改善产品性能参数。 欲了解最新的配置和性能,请与我们联系。
搭载多镜头          最多可同时搭载6枚物镜
Z轴聚焦范围       0.1纳米至10mm
手动旋转平台范围             360度
高清图像
 
2维、3维的直方图等视图
白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件,通过设置一些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图(例如直方图及雷达图等)
 
成像光源
长寿命强光LED,用户可自选波长范围
白光干涉仪对其光源承诺史无前例的十年质保。高亮的LED允许成像样品的反射率范围从小于0.4%到100%(高亮度的LED使反射率从小于0.4%到100%的样品均可清晰成像。)白光干涉光源承诺十年质保。
三维形貌仪允许客户改变可用波长扫描各种样品。
联系方式:aep Technology
电话:+86-010-68187909
传真:+86-010-68187909
手机:+86-15611184708何先生
公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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