NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI三维形貌仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围，可定制的波长范范围，使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
三维形貌仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。
测量表面可以覆盖90%以上材料表面。设备传感器精度高，稳定性好，材料应用面广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.01 nm ( phase-shift mode) 可测跨学科、跨领域的各种样品表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
 
 
三维形貌仪
参数性能追寻持续改进的目标
 
AEP的技术致力于日新月异的改善产品性能参数。 欲了解最新的配置和性能，请与我们联系。
 
垂直分辨率          0.1nm，0.02nm
搭载多镜头          最多可同时搭载6枚物镜
平台范围               150毫米x 150毫米（可选200毫米或更大）
物镜倍数               0.5倍到100倍
Z轴聚焦范围       0.1纳米至10mm
手动旋转平台范围             360度
高清图像
 
2维、3维的直方图等视图
白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件，通过设置一些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图（例如直方图及雷达图等）
 
成像光源
长寿命强光LED，用户可自选波长范围
白光干涉仪对其光源承诺史无前例的十年质保。高亮的LED允许成像样品的反射率范围从小于0.4%到100%（高亮度的LED使反射率从小于0.4%到100%的样品均可清晰成像。）白光干涉光源承诺十年质保。
三维形貌仪允许客户改变可用波长扫描各种样品。
联系方式：aep Technology
电话：+86-010-68187909
传真：+86-010-68187909
手机：+86-15611184708何先生
公司网址：www.aeptechnolongy.com.cn

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途