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分析测试百科网 > 日立 > 场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)
日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000
日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面,向所有用户提供高画质图像--      ......
日立热场发射扫描电镜SU7000
此次推出的SU7000采用全新设计的探测器,使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。以前我们要根据不同的观察信号来调整样品与透镜之间的距离......
场发射扫描电子显微镜Regulus8200
       "Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌,包括作为SU8010的后......
SU9000超高分辨率场发射扫描电子显微镜
日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。新的电子枪和电子光学设计提......
超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus8100
          "Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌,包括作为......
光-电联用显微镜法(CLEM)系统
MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。*1: CLEM (Correlative light and elec......
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