日立高新技术公司

400-6699-1171000

分析测试百科网 认证会员,请放心拨打!

首页 > 产品展示 > 分析仪器 > 光谱 > 荧光分光光度计(FL) > 日立荧光分布成像系统EEM View

日立荧光分布成像系统EEM View

分享:
咨询留言
参考报价: 面议 型号: EEM View
品牌: 日立 产地: 日本
关注度: 暂无 信息完整度:
样本: 下载 典型用户: 暂无
产地属性亚洲色散单元光栅和滤光片
灵敏度大于20000(BG); 大于1200(RMS)分辨率100μm
波长准确度±1nm以内狭缝(光谱通带)1nm~20nm

上市时间:2019年10月
创新点主要有两个方面:硬件方面:全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起,能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面:运用了智能光谱算法,可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号,得到的是一条荧光光谱,这个新的系统能够对样品表面进行分区,从而获得不同区域的光谱信号,使得光谱信息细致化了。


一、荧光分布成像系统(EEM View)简介

       作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。


 003.jpg

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

    

二、  荧光分布成像系统特点:

    1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)

在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)


荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)

004.jpg


2.  样品安装简单,适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png


荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。



注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

移动版: 资讯 Webinar 仪器谱

Copyright ©2007-2020 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号