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光-电联用显微镜法(CLEM)系统 MirrorCLEM

参考报价: 面议 型号: MirrorCLEM
品牌: 日立 产地: 日本
关注度: 1500 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
电子枪类型冷场发射
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。

  • *1: CLEM (Correlative light and electron microscopy):光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法


特点

MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统,在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后,让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步,通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外,还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。

系统配置

  • 超高分辨场发射扫描电子显微镜SU8200系列


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