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| 参考报价： | 面议 | 型号： | ARMV734/735 |
| 品牌： | 日本分光（亚洲） | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 28 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 总代理 | 产地类别 | 进口 |
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▼概要
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。
可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。
◆装置特点
?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
?测量范围广，从紫外到近红外区域
?双光束光学系统，测光稳定性好
?可分别控制入射角、受光角
?标配偏光测量功能
?专用的样品池支架，样品的装卸简单
◆规格
▼ARMV-734/ARMN-735 自动绝对反射率测量组件（V-600用）
型号 | ARMV-734 | ARMN-735 |
测定波长范围 | 250～850nm | 250～2000nm |
测量方式 | 测量绝对反射率、测量透过率 | |
入射角 | 5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0 ～ 85℃（大入射角样品支架、选项) | |
角度间隔 | 0.1°间隔 | |
设定方式 | 同期、非同期（入射部和受光部） | |
测量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定 |
※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030 自动绝对反射率测量组件（V-7000用）
型号 | VAR-7010 | VAR-7020 | VAR-7030 |
测量波长范围 | 250～900nm | 250～2000nm | 250～1800nm |
测定方式 | 测量绝对反射率、测量透过率 | ||
入射角 | 5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0 ～ 85℃（大入射角样品支架、选项) | ||
角度間隔 | 0.1°间隔 | ||
设定方式 | 同期、非同期（入射部和受光部） | ||
测量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°) |
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
