多功能X荧光光谱仪（痕量元素分析+ELV（ROSH）+镀层厚度测量 ）

应用于：

•铅隔汞铬溴等有害元素痕量分析

•焊料合金成分分析和镀层厚度测量

•电子产品中金和钯镀层的厚度测量

•五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量

•重金属合金分析和牌号鉴定

产品特点：

结合大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器良好的信躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途