布鲁克 NANOSTAR 小角X射线散射仪(SAXS)主要用于研究材料的纳米结构。传统的X射线衍射技术(XRD)常用来表征纳米以下尺寸的有序结构。而在纳米材料领域，几十到上百纳米的结构是其研究的主要方向，而且测试的样品从溶液、液晶、凝胶、金属到聚合物固体等变化多端。其内部纳米结构可能是周期性的，也可能是无规排列的，这已经远远超出了XRD能够测试的尺度范围和样品种类，而这些恰恰是SAXS这种无损检测技术所擅长的领域。因此SAXS是分析统计性纳米结构所必需的工具之一。NANOSTAR同步辐射式的设计理念、可选的多种高亮度点光源、无杂散准直系统、全真空光路系统及其大面积的实时二维探测器使其可以覆盖从液体到固体的多种应用。其应用领域包括溶胶、溶液、金属（如上图）、高分子（如上图）、纤维、催化剂、蛋白质（如上图）等。不论是各向同性样品还是各向异性样品均可测试和分析。此外，完备的一键式数据分析软件也让NANOSTAR的用户体验越来越完美。

1.可选的多种光源

从微焦斑封闭靶到微焦斑转靶再到液态金属靶， NANOSTAR为客户提供了多种选择，也使实验室内原位研究样品的动态过程成为可能。

2.全真空光路系统

实验的终极目标是消除外来因素的影响得到完全属于样品本身的散射信号，因此去除空气散射势在必行。NANOSTAR全真空光路设计将空气散射的影响降到了最低。

3.大面积实时二维零背景无死区探测器

获得“R&D100”大奖的第四代探测器V2000是大面积实时二维零背景无死区探测器。140mm的直径可在任何测试位置覆盖最大的角度范围。低像素尺寸提供了高空间分辨率。零背景的特点对弱散射信号非常灵敏，特别适合测试小角X射线散射的样品。

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