布鲁克 D8达芬奇 X射线衍射仪采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

布鲁克 D8达芬奇 X射线衍射仪技术指标：                                    

Theta/theta 立式测角仪                               

2Theta角度范围：-110~168°

角度精度：0.0001度                     

Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管                  

探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  

仪器尺寸：1868x1300x1135mm                            

重量：770kg                                               

布鲁克 D8达芬奇 X射线衍射仪应用：

物相定性分析

结晶度及非晶相含量分析

结构精修及解析

物相定量分析

点阵参数精确测量

无标样定量分析

微观应变分析

晶粒尺寸分析

原位分析

残余应力

低角度介孔材料测量

织构及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率测量

小角散射

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途